测试

220GHz 信道测量、在片测试与相位噪声、阵列校准的测量判据

• 相位噪声与阵列校准怎么测

  相位噪声测的是本振频率稳定度，阵列校准测的是幅相一致性；两者共用同一套参考面纪律，参考面不统一的校准数据没有可比性。

• 在片测试怎么判合格

  在片测试用探针直接测芯片，合格线由校准面、温偏置与重复性共同决定；校准面不一致是最大误差源，判读前先核校准追溯链。

• 220GHz 信道怎么测

  220GHz 信道测量用滑动相关法获取时延-角度谱，核心参数是探测带宽、时延分辨率与角度采样；同步参考与场景选择决定数据可用性。